產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心實(shí)驗(yàn)檢測(cè)儀器金相光學(xué)顯微鏡PZ-17AT金相顯微鏡
金相顯微鏡提供的圖像質(zhì)量和穩(wěn)固可靠的機(jī)械結(jié)構(gòu),操作簡(jiǎn)便,附件齊全,廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析以及工廠實(shí)驗(yàn)室材料檢測(cè)。
產(chǎn)品分類(lèi)
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高眼點(diǎn)、超寬視野平場(chǎng)目鏡,PL10x/22mm,提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測(cè)量的各類(lèi)測(cè)微尺,無(wú)限遠(yuǎn)平場(chǎng)消色差超長(zhǎng)工作距專業(yè)金相物鏡,無(wú)蓋玻片設(shè)計(jì)
觀察筒
鉸鏈?zhǔn)饺?,視度可調(diào)節(jié),45°傾斜,可進(jìn)行攝影攝像,對(duì)觀察圖像進(jìn)行采集和保存,配置電腦和專業(yè)軟件實(shí)現(xiàn)圖像分析。
調(diào)焦支架
低手位粗微調(diào)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),帶有粗調(diào)松緊調(diào)節(jié)裝置,粗調(diào)每轉(zhuǎn)行程38mm,微調(diào)精度0.002mm。
照明系統(tǒng)
帶可變光闌和中心可調(diào)視場(chǎng)光闌的反射式柯拉照明器,自適應(yīng)90V-240V寬電壓,12V50W鹵素?zé)簦行ПWo(hù)和延長(zhǎng)鹵素?zé)襞莸氖褂脡勖?/p>
載物臺(tái)
可加裝同軸低手位調(diào)節(jié)移動(dòng)尺及載物臺(tái)延伸板,拓展應(yīng)用空間,滿足不同需求客戶的使用。
金相顯微鏡技術(shù)參數(shù)
光學(xué)系統(tǒng) | 無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) |
觀察筒 | 鉸鏈?zhǔn)饺款^,45°傾斜,瞳距調(diào)節(jié)范圍:54-75mm,單邊視度調(diào)節(jié)±5屈光度分光比:雙目100%,雙目:三目=80%:20% |
目鏡 | 高眼點(diǎn)大視野平場(chǎng)目鏡PL10X22mm |
高眼點(diǎn)大視野平場(chǎng)目鏡PL15X/16mm | |
物鏡 | 無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)消色差金相物鏡:LMPL5X /0.15/WD10.8 LMPL10X/0.3/WD10 LMPL20X/0.45 /WD4 |
無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)半復(fù)消金相物鏡:LMPLFL50X/0.55 /WD7.8 LMPLFL100X/0.80 /WD2.1 | |
轉(zhuǎn)換器 | 五孔轉(zhuǎn)換器 |
調(diào)焦機(jī)構(gòu) | 粗微調(diào)同軸,粗調(diào)每轉(zhuǎn)行程:38mm,微調(diào)每轉(zhuǎn)行程:0.2 mm,調(diào)焦精度:0.002mm,帶松緊調(diào)節(jié)裝置 |
載物臺(tái) | 固定平臺(tái):尺寸160X250mm |
工作臺(tái)板 | 金屬載物臺(tái)板(中心孔Φ12)/金屬載物臺(tái)板(中心孔Φ25)/載物臺(tái)延伸板 |
移動(dòng)尺 | 低位同軸機(jī)械式移動(dòng)尺,行程120x78mm |
反射照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明器,帶可變孔徑光欄和中心可調(diào)視場(chǎng)光欄,自適應(yīng)90V~240V寬電壓,12V50W鹵素?zé)?,中心可調(diào),,亮度連續(xù)可調(diào) |
偏光裝置 | 起偏鏡插片 |
檢偏鏡插片,可360度旋轉(zhuǎn) | |
濾色鏡 | Φ32mm黃/綠/藍(lán)/中性 |
攝影裝置 | 攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 | 0.5X/1.0X/ C型攝像接筒 |
采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計(jì),支持26.5mm 超寬視野觀察,帶給您大視野體驗(yàn)。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒,保證樣品的移動(dòng)方向與您通過(guò)目鏡觀察到的方向一致,使操作更加得心應(yīng)手。
三檔式鉸鏈三目觀察筒,在成像光線100% 用于雙目觀察或三目攝影的基礎(chǔ)上,增加一檔20% 用于雙目觀察,80% 用于顯微攝影,方便用戶同時(shí)對(duì)鏡下圖像與視頻圖像進(jìn)行對(duì)比觀察
偏振系統(tǒng)
偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器,可做偏光檢測(cè),在半導(dǎo)體和PCB 檢測(cè)中,可消除雜光,細(xì)節(jié)清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉(zhuǎn)式檢偏器。360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下,方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)??稍谄裣到y(tǒng)的基礎(chǔ)上加載微分干涉器,建立微分干涉襯比系統(tǒng)。
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